アモルファス材料の構造解析

アモルファス材料の構造と特性は、これまで分析が困難でした。 なぜならば、構造解析のため最もよく使われているツールの1つ、X線（ブラッグ）回折が使えないからです。 一方、アモルファス相の材料特性は、アプリケーションに非常に便利です。 その良い例が、特性を利用する相変化メモリ材料です。 データストレージが結晶相とアモルファス相の特性の違いを利用します。 私たちのグループの専門は、構造の違いと変換プロセス自体の両方を調査することです。 放射光の分析技術を組み合わせて使用します。 X線吸収分光法、高エネルギー光電子分光法、および全散乱などを用いてアモルファス固体の局所構造を解析します。 次に、これらの実験の結果を密度汎関数理論と組み合わせて使用して、変換プロセスの完全な理解を構築します。